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Superintendente da Abrac participa da mesa de abertura do evento do Ipem-SP em comemoração ao Dia do Metrologista

Na ocasião, Masao Ito falou sobre a importância da metrologia na Avaliação da Conformidade

Nesta quarta-feira (26/06), a Associação Brasileira de Avaliação da Conformidade (Abrac) participou do seminário do Instituto de Pesos e Medidas do Estado de São Paulo (Ipem-SP) com o tema “Metrologia Industrial – A Metrologia como ferramenta de contribuição para a competitividade da indústria”, em comemoração ao Dia do Metrologista, em São Paulo (SP).

O superintendente da Abrac, Masao Ito, participou da mesa de abertura do seminário, juntamente com Marcos Heleno Guerson de Oliveira Junior, superintendente do Ipem-SP, Rodrigo Pereira Barretto da Costa-Félix, presidente da Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM); Celso Scaranello, presidente da Rede Metrológica do Estado de São Paulo (Remesp) e o secretário da Justiça e Cidadania em exercício, Raul Christiano.

“Estou muito feliz em participar desse evento, porque a metrologia é o fundamento, o coração de toda a nossa atividade e da nossa comunidade. É um segmento muito esquecido, mas de extrema importância”, pontuou Masao Ito, que também defendeu que a metrologia seja valorizada pela área médica e que se dê mais atenção à verificação dos aparelhos de pressão.

Marcos Heleno Guerson, superintendente do Ipem-SP, agradeceu a presença dos convidados. “Agradeço ao Masao Ito, superintendente da Abrac, que foi presidente do Inmetro, então, já tem uma ligação com a metrologia de muito tempo. Ficamos agradecidos pela sua presença”, completou.

Também estiveram presentes representando a Abrac: o presidente Synésio Batista da Costa, o vice-presidente de Laboratórios, Israel Teixeira e a assessora da superintendência, Cleriane Lopes Denipoti.

Fonte: Assessoria de imprensa da Abrac.